鍍層厚度測量已成為業(yè)、表面程的重要環(huán)節(jié)，是產品達到優(yōu)等質量標準的手段。為使產品際化，我出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。

鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的緣覆層測厚時采用。

隨著的日益步，別是近年來引入微機后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、、度、實用化的方向了步。測量的分辨率已達0.1微米，度可達到1%，有了大幅度的提。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

應用:用磁性傳感器測量鋼、鐵等鐵磁質金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制業(yè)、金屬業(yè)、化業(yè)、商檢等檢測域。

1.影響因素的有關說明

a 基體金屬磁性質

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器行校準;亦可用待涂覆試件行校準。

b 基體金屬電性質

基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器行校準。

c 基體金屬厚度

每種儀器都有個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

d 邊緣效應

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處行測量是不可靠的。

e 曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f 試件的變形

測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。